説明
キャパサー 47PF 50V C0G/NP0 0402
詳細な説明
| ストック | 216979 |
| 最小数量 | 1 |
| パッケージ | テープ&リール(TR)、カットテープ(CT) |
| キャパシタンス | 47pF |
| 許容範囲 | ±5% |
| 電圧 - 定格 | 50V |
| 温度係数 | C0G、NP0 |
| 取付タイプ | 表面実装、MLCC |
| パッケージ・ケース | 0402 (1005 メートル法) |
| サイズ/寸法 | 0.039インチ長さ x 0.020インチ幅 (1.00mm x 0.50mm) |
| 厚さ(最大) | 0.022インチ(0.56mm) |
C0G (NP0) 04025A470JAT2A は、「温度補償」EIA クラス I セラミック材料の最も一般的な配合です。
最新の C0G (NP0) 04025A470JAT2A 配合物には、ネオジム、サマリウム、その他の希土類酸化物が含まれています。
C0G (NP0) セラミックの静電容量ドリフトまたはヒステリシスは ±0.05% 未満で無視できますが、フィルムの場合は最大 ±2% です。
C0G (NP0) の寿命に伴う一般的な静電容量の変化は ±0.1% 未満であり、他のほとんどの誘電体で示される値の 5 分の 1 です。
C0G (NP0) 04025A470JAT2A の容量ドリフトまたはヒステリシス セラミックは±0.05%未満で無視できますが、フィルムの場合は最大±2%です。C0G (NP0) の寿命に伴う一般的な静電容量の変化は ±0.1% 未満であり、他のほとんどの誘電体で示される値の 5 分の 1 です。C0G (NP0) 配合物は老化特性を示しません。
定格電圧を印加した状態で、85℃±2℃/相対湿度85％±5％に設定した試験室に1000時間（+48、-0）保管します。測定前にチャンバーから取り出し、室温で 24 ± 2 時間安定させます。
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説明
キャパサー 47PF 50V C0G/NP0 0402
詳細な説明
| ストック | 216979 |
| 最小数量 | 1 |
| パッケージ | テープ&リール(TR)、カットテープ(CT) |
| キャパシタンス | 47pF |
| 許容範囲 | ±5% |
| 電圧 - 定格 | 50V |
| 温度係数 | C0G、NP0 |
| 取付タイプ | 表面実装、MLCC |
| パッケージ・ケース | 0402 (1005 メートル法) |
| サイズ/寸法 | 0.039インチ長さ x 0.020インチ幅 (1.00mm x 0.50mm) |
| 厚さ(最大) | 0.022インチ(0.56mm) |
C0G (NP0) 04025A470JAT2A は、「温度補償」EIA クラス I セラミック材料の最も一般的な配合です。
最新の C0G (NP0) 04025A470JAT2A 配合物には、ネオジム、サマリウム、その他の希土類酸化物が含まれています。
C0G (NP0) セラミックの静電容量ドリフトまたはヒステリシスは ±0.05% 未満で無視できますが、フィルムの場合は最大 ±2% です。
C0G (NP0) の寿命に伴う一般的な静電容量の変化は ±0.1% 未満であり、他のほとんどの誘電体で示される値の 5 分の 1 です。
C0G (NP0) 04025A470JAT2A の容量ドリフトまたはヒステリシス セラミックは±0.05%未満で無視できますが、フィルムの場合は最大±2%です。C0G (NP0) の寿命に伴う一般的な静電容量の変化は ±0.1% 未満であり、他のほとんどの誘電体で示される値の 5 分の 1 です。C0G (NP0) 配合物は老化特性を示しません。
定格電圧を印加した状態で、85℃±2℃/相対湿度85％±5％に設定した試験室に1000時間（+48、-0）保管します。測定前にチャンバーから取り出し、室温で 24 ± 2 時間安定させます。
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